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Xceed MICRO │ AXION │ PRECION │ ARTION
Xceed MICRO │ AXION │ PRECION │ ARTION
Ultra-Precision 3D AOI für Semiconductor Anwendungen
Sehr schnelle und hochauflösende Laser Scan Methode
Perfekte Inspektion auch bei hochreflektierenden Oberflächen
Inspektion unabhängig von Farbe, Material, Oberflächenstruktur
Inspektionskriterien
SiP, Die Attach, Underfill, Lotpaste und Bumps, Cu Clip auf Die, IGBT, etc.
Ultra-Precision 3D AOI für Semiconductor Anwendungen
Sehr schnelle und hochauflösende Laser Scan Methode
Perfekte Inspektion auch bei hochreflekt ierenden Oberflächen
Inspektion unabhängig von Farbe, Material, Oberflächen struktur
Inspektion skriterien SiP, Die Attach, Underfill, Lotpaste und Bumps, Cu Clip auf Die, IGBT, etc.
