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Xceed MICRO │ AXION │ PRECION │ ARTION
Xceed MICRO │ AXION │ PRECION │ ARTION
Ultra-Precision 3D AOI für Semiconductor Anwendungen
Magazin Lader/Entlader integriert
Sehr schnelle und hochauflösende Laser Scan Methode
Inspektion unabhängig von Farbe, Material, Oberflächenstruktur
Perfekte Inspektion auch bei hochreflektierenden Oberflächen
Inspektionskriterien
SiP, Die Attach, Underfill, Lotpaste und Bumps, Cu Clip auf Die, IGBT, etc.
Ultra-Precision 3D AOI für Semiconductor Anwendungen
Magazin Lader/Entlader integriert
Sehr schnelle und hochauflösende Laser Scan Methode
Inspektion unabhängig von Farbe, Material, Oberflächen struktur
Perfekte Inspektion auch bei hochreflektierenden Oberflächen
Inspektionskriterien SiP, Die Attach, Underfill, Lotpaste und Bumps, Cu Clip auf Die, IGBT, etc.
